Microscopes à balayage

Microscope Merlin Compact ZEISS équipé d’une colonne GEMINI I, brevet ZEISS
Résolution : 0.8 nm @ 15 kV ; 1.6 nm @ 1 kV
Tension : 20V - 30 kV.
Courant : 12pA-100 nA
Détecteur SE, détecteur SE pour la haute résolution (In-lens dans l’axe, intégré dans la colonne) et d’un détecteur BSD (5 quadrants).
Logiciel d’acquisition SMART SEM. 
Logiciel SMART STICH pour panoramas d’images

Système de microanalyse EDS/XRF

- détecteur EDS (sans azote) Bruker (QUANTAX - XFlash6 – 30mm2 – résolution 129 eV) pour la microanalyse ponctuelle des éléments majeurs.

- détecteur Micro XRF Bruker (XTRACE - Tube Rh - filtres Al, Ti, Ni) pour l’analyse des éléments à partir du Na.

- Logiciel ESPRIT pour l’analyse intégrée EDS et XRF
Analyse qualitative, quantitative ;
Cartographie élémentaire et de phases
Il fait partie des Equipment PLANEX.

Contact : Dr. Ida Di Carlo (06 27 75 54 99)

Microscope à Balayage Electronique TESCAN (FEG) couplé à un spectromètre RAMAN

MEB haute résolution (FEG - cathode Schottky), pression contrôlée
Détecteurs d’électrons secondaires, détecteurs d’électrons secondaires pour la haute résolution (In-Beam) et pour la pression contrôlée (LVSTD) ;
Détecteur combiné électrons rétrodiffusés (scintillateur) / cathodoluminescence (350 - 650 nm) ;
Détecteur STEM Dark Field / Bright Field ;
Platine Peltier (+10 / -50 °C)
EDAX PEGASUS
Système de microanalyse EDS / EBSD
Détecteur EDS sans azote (SDD) ;
Analyse qualitative, quantitative ;
Cartographie élémentaire et de phases ;
Analyse automatique de particules ;
Caméra EBSD haute résolution ;
Analyse couplée EDS / EBSD
RENISHAW In-Via
Spectromètre Raman et couplage MEB-Raman
3 lasers : 514, 632 et 785 nm ;
Objectifs x5 à x100 et 50 LW ;
Cartographie Raman et imagerie rapide Streamline ;
Platine Peltier -196 / + 600°C ;
Interface de couplage MEB-Raman pour acquisition Raman dans le MEB

Contact : Dr.Ida Di Carlo (06 27 75 54 99)

Microscope à Balayage de table HITACHI TM3000

Microscope compacte et automatique. Il permet de travailler à une tension d’accélération variable entre 15 et 5 kV avec facilité et vitesse, selon les informations à obtenir (i.e. détails de surfaces ou résolution).
La taille maximale des échantillons est de 70*50 mm, sans préparation spécifique de l’échantillon grâce au mode de réduction de la charge électrique.
La magnification est comprise entre 15 et 30 000x.
Il est équipé d’un système d’analyse EDS type Swift ED3000 capable de détecter les éléments entre le B et le U.
Il est surtout utilisé dans l’imagerie des minéraux biogénétiques

Contact : Dr.Pascale Gautret (02 38 49 46 89)